应用于割后的QFN package的拣选工艺，从贴附在晶圆铁圈(tape frame)的package产品经系统藉由视觉系统进行正、背面检查，然后将合格的产品拣选到 JEDEC tray
♦兼容标准8寸、12寸标准Disco Frame、可应用方形Tape Frame(客制化，选配)
♦多取头模块高产出，UPH>10K
♦高精度取放 : +/- 50μm
♦具备package正面/背面瑕疵检查与分类输出
♦全自动 JEDEC tray 良品堆叠出料、检测的NG品可采用tray、料盒出料
♦标准JEDEC tray输出，具备料管(Tube)、编带(Tape & Reel)选配输出
♦采模块化设计，操作与维护简单、高性价比
| 项目 | 规格描述 |
|---|---|
| 适用产品 | QFN /QFP package、BGA、Tape & Saw 之后产品的 Pick & Place、 CMOS Sensor、Universal Application |
| 芯片取放精度 | X/Y < ±50 μm (3σ)，角度<± 1° |
| 生产速度 | UPH > 10K (for 3*3mm package) |
| Tape Frame尺寸 | 兼容标准8寸、12寸标准Disco Frame、 可应用方形Tape Frame(客制化，选配) |
| 芯片尺寸(package size) | 3mm x 3mm ~15mm x 15mm x 0.1 - 0.7 mm (T) |
| JEDEC Tray Size | 322.6(L) × 135.9(W) × 7.62(H) or 12.19(H) mm |
| Package 出料方式 | 全自动 JEDEC tray 良品堆叠出料、检测NG tray出料、NG 料盒输出 |
| Tube 出料 | 选配 |
| Tape & Reel 出料 | 选配 |
| 正面检查 | Mark Inspection、Package Dimension、 Handler related chipping/crack (裂损)、Scratch(划痕)… |
| 背面检查 | Missing Pad、Pad Pitch、Pad Length/Width、Pad Burr、 Solder ball damage(锡球破损)… |
| 设备尺寸 | 2190 mm(宽) x 1976 mm(高) x 1560 mm(深) |
